SZ-45 स्टीरियो माइक्रोस्कोप

हाल के वर्षों में, धातु विज्ञान, मशीनरी, पेट्रोकेमिकल, विद्युत शक्ति, परमाणु ऊर्जा और एयरोस्पेस जैसी आधुनिक तकनीकों के तीव्र विकास के साथ, उत्पाद वेल्डिंग की स्थिरता की आवश्यकताएं लगातार बढ़ती जा रही हैं, और वेल्डिंग की पैठ वेल्डिंग के यांत्रिक गुणों, निशानों और बाहरी प्रदर्शन के लिए महत्वपूर्ण है। इसलिए, वेल्डिंग पैठ का प्रभावी पता लगाना वेल्डिंग प्रभाव के परीक्षण का एक महत्वपूर्ण साधन बन गया है। पैठ स्टीरियो माइक्रोस्कोप विदेशी उन्नत तकनीक का उपयोग करता है, जो ऑटो पार्ट्स निर्माण के क्षेत्र में वेल्डिंग की सख्त आवश्यकताओं के लिए विशेष रूप से उपयुक्त है। यह विभिन्न वेल्डेड जोड़ों (जैसे बट जॉइंट, कॉर्नर जॉइंट, लैप जॉइंट, टी-जॉइंट आदि) की पैठ का फोटो खींच सकता है, संपादित कर सकता है, माप सकता है, सहेज सकता है और प्रिंट कर सकता है।

तकनीकी मापदंड:

सूक्ष्मदर्शी:
1. नेत्रगोलक: 10X, दृश्य क्षेत्र φ22 मिमी
2. ऑब्जेक्टिव लेंस की निरंतर ज़ूम रेंज: 0.8X-5X
3. आईपिस का दृश्य क्षेत्र: φ57.2-φ13.3 मिमी
4. कार्य दूरी: 180 मिमी
5. दोहरी पुतली दूरी समायोजन सीमा: 55-75 मिमी
6. मोबाइल कार्य दूरी: 95 मिमी
7. कुल आवर्धन: 7-360 गुना (उदाहरण के तौर पर 17 इंच का डिस्प्ले और 2 गुना बड़ा ऑब्जेक्टिव लेंस लें)
8. आप टीवी या कंप्यूटर पर सीधे भौतिक छवि देख सकते हैं।

माप भाग:
यह सॉफ्टवेयर सिस्टम शक्तिशाली है: यह सभी चित्रों के ज्यामितीय आयामों (बिंदुओं, रेखाओं, वृत्तों, चापों और प्रत्येक तत्व के अंतर्संबंध) को माप सकता है, मापा गया डेटा स्वचालित रूप से चित्रों पर अंकित किया जा सकता है, और पैमाना प्रदर्शित किया जा सकता है।

1. सॉफ्टवेयर माप सटीकता: 0.001 मिमी

2. ग्राफिक माप: बिंदु, रेखा, आयत, वृत्त, दीर्घवृत्त, चाप, बहुभुज।

3. ग्राफिकल संबंध मापन: दो बिंदुओं के बीच की दूरी, एक बिंदु से एक सीधी रेखा तक की दूरी, दो रेखाओं के बीच का कोण और दो वृत्तों के बीच का संबंध।

4. तत्व संरचना: मध्यबिंदु संरचना, केंद्रबिंदु संरचना, प्रतिच्छेदन संरचना, लंबवत संरचना, बाहरी स्पर्शरेखा संरचना, आंतरिक स्पर्शरेखा संरचना, जीवा संरचना।

5. ग्राफिक प्रीसेट: बिंदु, रेखा, आयत, वृत्त, दीर्घवृत्त, चाप।

6. छवि प्रसंस्करण: छवि कैप्चर करना, छवि फ़ाइल खोलना, छवि फ़ाइल सहेजना, छवि प्रिंट करना